国立大学法人電気通信大学
デュアルコム分光法による革新的な光パルス測定
国立大学法人電気通信大学
デュアルコム分光法による革新的な光パルス測定
この特許は、デュアルコム分光法を用いた光パルスの時間軸上の位置の測定方法に関するもので、干渉信号の測定と物性情報の取得を可能にします。特に、2つの光周波数コムのうち1つを固体試料を通過する信号光パルスとし、もう1つを信号光パルスと干渉させるローカル光パルスとすることで、固体試料の物性情報を位相スペクトルとして取得することが可能です。これにより、位相補正とコヒーレント積算をリアルタイムで行うことができ、フーリエ解析を用いて物性情報が得られます。これは、デュアルコム分光法が広波長域・高精度・高分解能な測定を可能にするため、デュアルコム分光法が新しい分光法として期待されている背景から、特に有用です。
つまりは、繰り返し周波数の異なる光周波数コムを用いたデュアルコム分光法による光パルスの時間軸上の位置の測定及び物性情報の取得法を提供します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学物理学分光学
- 高精度な物性情報の取得
- 新しい分光法の開発
- 先端技術の教育・研究
この技術は、固体試料の物性情報を高精度に取得するために使用できます。位相スペクトルをリアルタイムで取得し、フーリエ解析を行うことで物性情報が得られます。
この特許は、広波長域・高精度・高分解能な測定が可能な新しい分光法の開発に貢献します。特に、デュアルコム分光法における光パルスの時間軸上の位置の測定及び物性情報の取得法を提供することで、分光法の進歩に寄与します。
この特許は、化学や物理学、分光学などの先端技術の教育や研究に活用できます。具体的な測定方法とその応用例を理解することで、学生や研究者の知識を深め、新たな発見や開発への道筋を示すことが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-247417 |
| 発明の名称 | デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人電気通信大学 |
| 公開番号 | 特開2020-106477 |
| 登録番号 | 特許第0007128516号 |
- サブスク
- 譲渡
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