株式会社デンケン、独立行政法人国立高等専門学校機構
高精度な欠陥検査装置とその手法
株式会社デンケン、独立行政法人国立高等専門学校機構
高精度な欠陥検査装置とその手法
本特許は、被検査対象物を撮像し、その撮像データを処理することで画像データを生成します。その処理画像データと予め規定された多種の欠陥データ、また機械学習モデルに基づいて、被検査対象物の欠陥の有無を高精度に判定します。第1及び第2の判定部が連携し、特定の欠陥があると判断した場合には、その特定の欠陥の有無を再度判定します。これにより、良品を不良品と誤判定するリスクが低減します。
つまりは、予め規定された欠陥と機械学習モデルに基づいて被検査物の欠陥の有無を判定する装置と方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業自動車産業半導体業界
- 品質管理の強化
- 生産効率の向上
- 機械学習モデルの活用
製造業における品質管理は、製品の信頼性やブランドイメージに直接影響します。本特許技術を活用して、製造ラインにおける欠陥検査の精度を向上させ、良品と不良品の誤判定を最小限に抑えることが可能です。
不良品の早期発見と修正は、生産コストと時間の削減に直結します。本特許の検査装置と手法を用いれば、検査工程を効率化し、生産性を向上させることができます。
機械学習モデルを活用した欠陥判定は、検査の精度を向上させるだけでなく、検査パターンの自動更新も可能にします。これにより、新たな欠陥パターンにも迅速に対応することが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2019-003969 |
| 発明の名称 | 検査装置及び検査方法 |
| 出願人/権利者 | 株式会社デンケン、独立行政法人国立高等専門学校機構 |
| 公開番号 | 特開2020-112456 |
| 登録番号 | 特許第0006630912号 |
- サブスク
- 譲渡
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