国立大学法人 筑波大学
高精度な磁気特性測定装置

国立大学法人 筑波大学
高精度な磁気特性測定装置
本特許の磁気特性測定装置は、導電パターンを利用した励磁コイルを構成し、測定試料の磁気特性を高精度に測定するものです。導電パターンはコンデンサと直列接続することで直列共振回路を構成し、高周波磁界を発生させます。この高周波磁界を測定エリアに印加し、ピックアップコイルによって測定試料の磁気特性を検出します。また、励磁コイルと同じ形状の導電パターンによってピックアップコイルが形成されます。これにより、高精度で安定した磁気特性の測定が可能になります。
つまりは、高周波磁界を用いた磁気特性の測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業電子機器製造業研究開発
- 高精度な材料分析
- クオリティコントロールの強化
- 磁気デバイスの開発
本特許の磁気特性測定装置は、新たな材料の開発や既存の材料の特性分析に活用することができます。特に、磁性体の性質を高精度に分析することで、材料の適用範囲や最適な利用方法を探求することが可能です。
本特許の磁気特性測定装置は、製造工程における品質管理に活用することができます。製品の一部に磁性体が使用されている場合、その磁性体の特性を高精度に測定し、一貫した品質を保つことが可能です。
本特許の磁気特性測定装置は、磁気デバイスの開発に活用することができます。特に、励磁コイルの形状による磁場の変化を詳細に分析し、新たな磁気デバイスの設計や既存のデバイスの改良に役立てることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2019-033070 |
発明の名称 | 磁気特性測定装置および磁気特性測定方法 |
出願人/権利者 | 国立大学法人 筑波大学 |
公開番号 | 特開2020-139744 |
登録番号 | 特許第0007251772号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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