国立研究開発法人物質・材料研究機構
光学特性を正確に測定！分光測定装置の新時代
国立研究開発法人物質・材料研究機構
光学特性を正確に測定！分光測定装置の新時代
本特許は、被験物質の光学特性を正確に測定するための分光測定装置に関するものです。この装置は、標準物質と被験物質の波長スペクトルからフォトン数を算出し、その値を用いて各種光学特性を計算します。特に、外部量子効率、吸収率、反射率、内部量子効率などの光学特性を算出することが可能です。各光学特性の算出は、標準物質の光学特性との組み合わせにより、異なる計算式で行われます。これにより、被験物質の光学特性をより正確に、そして柔軟に測定することができます。
つまりは、被験物質の各種光学特性を精密に算出する分光測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 光学産業材料科学半導体産業
- 光学材料の開発・評価
- 光学デバイスの品質管理
- 教育・研究用途への活用
新規光学材料の開発や既存材料の評価にこの分光測定装置を活用することで、材料の光学特性を正確に把握することが可能になります。これにより、材料開発の効率化や品質向上に寄与します。
光学デバイスの製造段階で本分光測定装置を用いることで、製品の光学特性を確認し品質を管理することが可能になります。これにより、製品の品質安定化や不良品の削減に貢献します。
本分光測定装置は、光学や材料科学の教育・研究においても有用なツールとなります。実験におけるデータ取得や解析を容易にし、学生や研究者の理解を深めることに寄与します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2019-059573 |
| 発明の名称 | 分光測定装置、および、分光測定プログラム |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | 特開2020-159867 |
| 登録番号 | 特許第0007195540号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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