国立大学法人千葉大学
革新的な断層撮影装置:3次元物質密度分布可視化可能

国立大学法人千葉大学
革新的な断層撮影装置:3次元物質密度分布可視化可能
この特許は、既存の断層撮影装置を進化させ、より精密な情報を提供する反射型断層撮影装置を提供します。この装置は、一次元のγ線を照射し、散乱角度やエネルギーに基づいて散乱γ線に関する情報を測定する能力を持っています。装置は、γ線源と測定対象物の間に配置され、測定対象物の3次元物質密度分布を正確に測定することが可能です。これにより、埋設物の探索や透視検査、さらには乳がん診断などの診断装置にも利用可能です。これらのアプリケーションは、鋭角な散乱角度と高エネルギーの光子による精密な散乱位置の特定を必要とします。
つまりは、角度やエネルギーに基づく精密な散乱位置の特定を可能にする、反射型断層撮影装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療業界工業検査業界建設業界
- 乳がん診断の改善
- 埋設物の探索
- 透視検査装置の進化
従来のマンモグラフィーに代わり、痛みを伴わずに乳房の3次元的な物質密度分布を測定できるため、より精密な乳がん診断が可能になります。
土中や雪中に埋設された物質の3次元的な物質密度分布を測定することで、より精密な埋設物の探索が可能になります。これにより、建設業界や考古学の分野での活用が期待できます。
コンテナや金属容器内の物質の透視に利用できます。現行の技術では困難だった床面や壁面に密着した物質の透視も可能になります。これにより、工業検査の分野での活用が期待できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2019-082455 |
発明の名称 | 反射型断層撮影装置 |
出願人/権利者 | 国立大学法人千葉大学 |
公開番号 | 特開2020-180816 |
登録番号 | 特許第0006779535号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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