学校法人東京電機大学
高精度測定の新たなスタンダード、微分干渉計の特許技術
学校法人東京電機大学
高精度測定の新たなスタンダード、微分干渉計の特許技術
本特許は、干渉信号の密度が一定であり、被測定物の凹凸の解釈上の問題が解決可能な微分干渉計に関するものです。特にレーザー光を用いた微分干渉計に適した技術として開発されました。対物レンズの半径方向に沿ってシアする手法により、平面形状の計測、微生物等の観察が可能です。また、一対のアキシコンレンズのいずれか一方を中心軸に沿った方向に平行移動することで、突出端と凹端との間の隙間の大きさを調整することが可能です。光源がコヒーレンされる微分干渉計も含まれます。
つまりは、レーザー光を用いた微分干渉計技術により、物体の位置、姿勢、距離などを高精度に測定可能
AIによる特許活用案
おすすめ業界 精密機器製造業バイオテクノロジーナノテクノロジー
- 高精度な距離測定装置の開発
- バイオテクノロジーへの応用
- 高精度な3Dスキャニング装置の開発
本特許技術を活用して、物体までの距離を非常に高精度に測定する装置を開発することが可能です。これにより、製造業や建設業などでの精密な測定作業を効率化し、作業精度を向上させることが期待できます。
本技術を利用して、微生物などの観察に用いる装置を開発することが可能です。これにより、バイオテクノロジー分野での研究や開発が大幅に進展する可能性があります。
本特許技術を活用して、物体の3Dスキャニング装置を開発できます。物体の形状や位置を高精度に捉えることが可能となり、製品設計や建築設計など、様々な分野での利用が期待できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2019-114223 |
| 発明の名称 | 微分干渉計 |
| 出願人/権利者 | 学校法人東京電機大学 |
| 公開番号 | 特開2021-001739 |
| 登録番号 | 特許第0007282367号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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