本特許（JP 2023-009562 A）は、撮像系のMTF（Modulation Transfer Function）を高精度に測定するMTF測定装置に関するものです。MTFは、レンズや撮像素子の解像性能を定量的に表す指標であり、高精度測定には正確なエッジ抽出と空間周波数解析が不可欠です。本発明のMTF測定装置（1）は、撮像系（2）が撮影したチャート画像（CH）からROI（Region of Interest）画像を抽出し、エッジ傾きを自動検出するエッジ傾き検出手段（14）を備えています。その後、ROI内の画素を投影するための**ビン幅算出手段（150）および投影軸位置対応付け手段（151）により、エッジ方向に対して垂直な投影軸を正確に設定。各画素値を対応するビンに投影してエッジプロファイルを生成（17）し、そこから周波数特性算出手段（18）**によってMTFを導出します。これにより、従来手法で問題だったROI選定誤差や投影軸ズレを解消し、より精密な空間周波数応答評価を実現します。

つまりは、チャート画像から自動でROI（測定領域）を抽出し、エッジの傾きに応じて最適な解析軸を算出。人為的誤差を排除し、正確なMTF（Modulation Transfer Function）を導き出す新しい光学評価装置です。